نظرة عامة على المنتج
يُعدّ جهاز نظام تحليل تحديد موقع التسرب الكهربائي الدقيق بالفوتونات من EMMI أداةً تحليليةً أساسية في تحليل أعطال الدوائر المتكاملة، إذ يُعتبر تحديد موقع التسرب الكهربائي أداةً لا غنى عنها للمحللين. أثناء تشغيل الرقاقة، تنتشر ظاهرة التسرب الكهربائي الدقيق على نطاق واسع؛ وفي الحالات القصوى، قد يتضاعف هذا التسرب الضعيف إلى حدٍّ غير محدود، مما يؤدي إلى تعطّل الرقاقة أو حتى النظام التحكمي بأكمله. لذلك، تُشكّل ظاهرة التسرب الكهربائي الدقيق في الرقاقات عنصراً بالغ الأهمية في تحليل أعطال الدوائر المتكاملة.
التطبيق والأداء
بالنسبة لتحليل أسباب فشل أجهزة أشباه الموصلات ذات الفجوة العريضة (مثل GaN وSiC)، طرحت الشركة نظام اختبار EMMI بطول موجي استجابة يتراوح بين 400 نانومتر و1000 نانومتر، وهو قادر على تحديد مواقع التسريبات الكهربائية بدقة تصل إلى مستوى الميكروأمبير في رقائق مثل HEMT بناءً على غاليوم نيتريد، وLEDs المصنوعة من غاليوم نيتريد، وخلايا ضوئية مصنوعة من كربيد السيليكون، والوصلة الثنائية بناءً على كربيد السيليكون، وترانزستورات MOSFET القائمة على السيليكون، وكذلك الدوائر المتكاملة. يتميز هذا النظام بدقة مكانية تقل عن 1 ميكرومتر، كما يتيح تصوير الضوء شديد الخفوت.
حالة الاختبار
مُحَوِّلات الطاقة ذات مادة نيتريد الغاليوم
مصابيح LED من نيتريد الغاليوم
سي موسفيتس
سي إف آر دي
سي أي جي تي